三綜合試驗箱滿足以下標(biāo)準(zhǔn)：

　　　 GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件；

　　　 GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件；

　　　 GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法；

　　　 GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法；

　　　 IEC68-2-1基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：寒冷；

　　　 IEC68-2-2基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：干熱；

　　　 GJB150.3-86jun用設(shè)備環(huán)境試驗方法 高溫試驗；

　　　 GJB150.4-86jun用設(shè)備環(huán)境試驗方法 低溫試驗；

GB11158；GB10592；GB10589；GB2423.1、2、22；GJB150.3-86；GJB150.4-86等；

　　　 GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca恒定濕熱試驗方法；

　　　 GB/T2423.4-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db交變濕熱試驗方法；

　　　 GJB150.9-86jun用用設(shè)備環(huán)境試驗方法　濕熱試驗；



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